TY  - RPRT
TI  - Measuring Lateral Magnetic Structure in Thin Films Using Polarized Neutron Reflectometry
AU  - W. -T. Lee
AU  - S. G. E. te Velthuis
AU  - G. P. Felcher
AU  - F. Klose
AU  - T. Gredig
AU  - D. Dahlberg
AU  - B. V. Toperverg
PY  - 2002
DO  - 10.1016/s0921-4526(03)00195-9
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0210124
ID  - cond-mat/0210124
ER  -