TY  - RPRT
TI  - Annealing-Dependent Magnetic Depth Profile in Ga[1-x]Mn[x]As
AU  - B. J. Kirby
AU  - J. A. Borchers
AU  - J. J. Rhyne
AU  - S. G. E. te Velthuis
AU  - A. Hoffmann
AU  - K. V. O'Donovan
AU  - T. Wojtowicz
AU  - X. Liu
AU  - W. L. Lim
AU  - J. K. Furdyna
PY  - 2004
DO  - 10.1103/physrevb.69.081307
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0311119
ID  - cond-mat/0311119
ER  -