TY  - RPRT
TI  - Variable - temperature scanning optical and force microscope
AU  - P. S. Fodor
AU  - H. Zhu
AU  - N. G. Patil
AU  - J. Levy
PY  - 2004
DO  - 10.1063/1.1784560
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0403185
ID  - cond-mat/0403185
ER  -