TY  - RPRT
TI  - Bias Dependence and Electrical Breakdown of Small Diameter Single-Walled Carbon Nanotubes
AU  - R. V. Seidel
AU  - A. P. Graham
AU  - B. Rajasekharan
AU  - E. Unger
AU  - M. Liebau
AU  - G. S. Duesberg
AU  - F. Kreupl
AU  - W. Hoenlein
PY  - 2004
DO  - 10.1063/1.1807523
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0410336
ID  - cond-mat/0410336
ER  -