TY  - RPRT
TI  - Critical behaviour of thin films with quenched impurities
AU  - L. Craco
AU  - L. De Cesare
AU  - I. Rabuffo
AU  - I. P. Takov
AU  - D. I. Uzunov
PY  - 2005
DO  - 10.1016/s0378-4371(99)00101-6
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0509720
ID  - cond-mat/0509720
ER  -