TY  - RPRT
TI  - X-Ray Scattering at Lanthanide M5 Resonances: Application to Magnetic Depth Profiling
AU  - H. Ott
AU  - C. Schuessler-Langeheine
AU  - E. Schierle
AU  - A. Yu. Grigoriev
AU  - V. Leiner
AU  - H. Zabel
AU  - G. Kaindl
AU  - E. Weschke
PY  - 2005
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0509725
ID  - cond-mat/0509725
ER  -