TY  - RPRT
TI  - Infrared Imaging of the Nanometer-Thick Accumulation Layer in Organic Field-Effect Transistors
AU  - Z. Q. Li
AU  - G. M. Wang
AU  - N. Sai
AU  - D. Moses
AU  - M. C. Martin
AU  - M. Di Ventra
AU  - A. J. Heeger
AU  - D. N. Basov
PY  - 2006
DO  - 10.1021/nl052166+
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0602229
ID  - cond-mat/0602229
ER  -