TY  - RPRT
TI  - Hf defects in HfO2/Si
AU  - W. L. Scopel
AU  - Antonio J. R. da Silva
AU  - A. Fazzio
PY  - 2006
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0608677
ID  - cond-mat/0608677
ER  -