TY  - RPRT
TI  - Characterization of Disorder in Semiconductors via Single-Photon Interferometry
AU  - P. Bozsoki
AU  - P. Thomas
AU  - M. Kira
AU  - W. Hoyer
AU  - T. Meier
AU  - S. W. Koch
AU  - K. Maschke
AU  - I. Varga
AU  - H. Stolz
PY  - 2006
DO  - 10.1103/physrevlett.97.227402
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0611411
ID  - cond-mat/0611411
ER  -