TY  - RPRT
TI  - Bias-dependent Contact Resistance in Rubrene Single-Crystal Field-Effect Transistors
AU  - A. Molinari
AU  - I. Gutierrez
AU  - I. N. Hulea
AU  - S. Russo
AU  - A. F. Morpurgo
PY  - 2007
DO  - 10.1063/1.2741411
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0703029
ID  - cond-mat/0703029
ER  -