TY  - RPRT
TI  - Noise in Al single electron transistors of stacked design
AU  - V. A. Krupenin
AU  - D. E. Presnov
AU  - M. N. Savvateev
AU  - H. Scherer
AU  - A. B. Zorin
AU  - J. Niemeyer
PY  - 1998
DO  - 10.1063/1.368474
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/9804197
ID  - cond-mat/9804197
ER  -