TY  - RPRT
TI  - Negative capacitance effect in semiconductor devices
AU  - M. Ershov
AU  - H. C. Liu
AU  - L. Li
AU  - M. Buchanan
AU  - Z. R. Wasilewski
AU  - A. K. Jonscher
PY  - 1998
DO  - 10.1109/16.725254
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/9806145
ID  - cond-mat/9806145
ER  -