TY  - RPRT
TI  - Electronic-Transport Properties of Al-Cu-Fe Thin Films
AU  - R. Haberkern
AU  - C. Roth
AU  - R. Knoefler
AU  - F. Zavaliche
AU  - P. Haeussler
PY  - 1999
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/9911371
ID  - cond-mat/9911371
ER  -