TY  - RPRT
TI  - Analysis of Trapping and Detrapping in Semi-Insulating GaAs Detectors
AU  - M. Rogalla
AU  - Th. Eich
AU  - N. Evans
AU  - R. Geppert
AU  - R. Goeppert
AU  - R. Irsigler
AU  - J. Ludwig
AU  - K. Runge
AU  - Th. Schmid
AU  - D. G. Marder
PY  - 1997
DO  - 10.1016/s0168-9002(97)00632-3
UR  - https://arxiv.org/abs/hep-ex/9701018
ID  - hep-ex/9701018
ER  -